根據(jù)理論分析得知，TEV有可能是由于局部放電引起的電磁波從開關柜不連續(xù)處泄露而形成。為了驗證其理論的正確性，首先對無縫情況時的TEV傳播過程進行了仿真，其結果如圖所示。

上圖中所示為無縫情況下TE號在開關柜內(nèi)的傳播過程，TE號以放電源為中心向四周輻射，明顯穿透了開關柜金屬外殼，不過理論上金屬對電磁信號有很強的屏蔽作用，為了得知電磁信號是否被屏蔽，通過檢測探針在開關柜模型金屬殼外表面測量到的信號強度如下圖所示。

無縫時的TE號仿真結果zui大值為6e-9Vfmm，接近于0，由此可見，開關柜殼體對TE號產(chǎn)生的金屬屏蔽作用明顯，TE號以穿透金屬為傳播路徑的可能性很小。